蔡司工業(yè)顯微鏡系列

　　憑借以應用為導向及聯(lián)通的工業(yè)顯微鏡產(chǎn)品組合，蔡司可將數(shù)據(jù)轉化為幫助您更快做出正確決策的有用信息。

　　從微米到納米

　　蔡司為各種工業(yè)領域應用提供廣泛的解決方案，滿足汽車、電子、航空航天、醫(yī)療、增材制造從外形尺寸、表面質(zhì)量到缺陷檢測、材料性能的測量需求。通過光學、X射線和電子成像模式，實現(xiàn)高質(zhì)量成像。結合智慧軟件，為您解決特定技術問題、優(yōu)化流程、提高質(zhì)量分析效率。

　　蔡司掃描電子顯微鏡EVO

　　Sigma

　　Crossbeam

蔡司Crossbeam系列的FIB-SEM結合了場發(fā)射掃描電子顯微鏡(FE-SEM)出色的成像和分析性能，和新一代聚焦離子束(FIB)優(yōu)異的加工性能。無論是在科研或是工業(yè)實驗室，您都可以在一臺設備上實現(xiàn)多用戶同時操作。得益于蔡司Crossbeam系列模塊化的平臺設計理念，您可以根據(jù)自己需求的變化隨時升級儀器系統(tǒng)。在加工、成像或是實現(xiàn)三維重構分析時，Crosssbeam系列都將大大提升您的應用體驗。

　　使用Gemini電子光學系統(tǒng)，您可以從高分辨率SEM圖像中提取真實樣本信息

　　使用新的Ion-sculptor FIB鏡筒以及全新的樣品處理方式，您可以大限度地提高樣品質(zhì)量、降低樣品損傷，同時大大加快實驗操作過程

　　使用Ion-sculptor FIB的低電壓功能，您可以制備超薄的TEM樣品，同時將非晶化損傷降到非常低

　　使用Crossbeam 340的可變氣壓功能

　　或使用Crossbeam 550實現(xiàn)更苛刻的表征，大倉室甚至為您提供更多選擇

　　EM樣品制備流程

　　按照以下步驟，高效率、高質(zhì)量地完成制樣

　　Crossbeam 為制備超薄、高質(zhì)量的TEM樣品提供了一整套解決方案，您可以高效地準備樣品，并在TEM或STEM上實現(xiàn)透射成像模式的分析。

　　1.自動定位——感興趣的區(qū)域(ROI)輕松導航

　　您可以不費功夫地找到感興趣的區(qū)域(ROI)

　　使用樣品交換室的導航相機對樣品進行定位

　　集成的用戶界面使得您可以輕松定位到ROI

　　在SEM上獲得寬視野、無畸變的圖像