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a、帶動刻度盤的齒條應清潔、無變形。b、刻度盤位置固定，刻度線應清晰、無變形。c、滑桿及試錐表面應平直光滑，依靠自重自由下落，不得有緊澀和曠動。d、試錐與滑桿總...
a、外觀檢查：技術要求中1.1、1.2、1.3條通過目測和手動的方法檢查。b、用天平稱量試錐和滑桿的總質量。c、用游標卡尺測量試錐尺寸及圓錐形金屬筒的尺寸。d、...
a、帶動刻度盤的齒條應清潔、無變形。b、刻度盤位置固定，刻度線應清晰、無變形。c、滑桿及試錐表面應平直光滑，依靠自重自由下落，不得有緊澀和曠動。d、試錐與滑桿總...
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b、刻度盤位置固定，刻度線應清晰、無變形。c、滑桿及試錐表面應平直光滑，依靠自重自由下落，不得有緊澀和曠動。d、試錐與滑桿總質量300±2g。e、試錐...
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a、帶動刻度盤的齒條應清潔、無變形。b、刻度盤位置固定，刻度線應清晰、無變形。c、滑桿及試錐表面應平直光滑，依靠自重自由下落，不得有緊澀和曠動。d、試錐與滑桿總...
a、外觀檢查：技術要求中1.1、1.2、1.3條通過目測和手動的方法檢查。b、用天平稱量試錐和滑桿的總質量。c、用游標卡尺測量試錐尺寸及圓錐形金屬筒的尺寸。d、...
a、校驗項目b、外觀檢查。c、檢查試錐和滑桿總質量。d、測量試錐及圓錐形金屬筒的尺寸。e、校驗用器具f、天平：稱量1000g，感量1g。g、游標卡尺：量程300...
a、帶動刻度盤的齒條應清潔、無變形。b、刻度盤位置固定，刻度線應清晰、無變形。c、滑桿及試錐表面應平直光滑，依靠自重自由下落，不得有緊澀和曠動。d、試錐與滑桿總...
b、刻度盤位置固定，刻度線應清晰、無變形。c、滑桿及試錐表面應平直光滑，依靠自重自由下落，不得有緊澀和曠動。d、試錐與滑桿總質量300±2g。e、...
a、帶動刻度盤的齒條應清潔、無變形。b、刻度盤位置固定，刻度線應清晰、無變形。c、滑桿及試錐表面應平直光滑，依靠自重自由下落，不得有緊澀和曠動。d、試錐與滑桿總...
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b、刻度盤位置固定，刻度線應清晰、無變形。c、滑桿及試錐表面應平直光滑，依靠自重自由下落，不得有緊澀和曠動。d、試錐與滑桿總質量300±2g。e、...
a、帶動刻度盤的齒條應清潔、無變形。b、刻度盤位置固定，刻度線應清晰、無變形。c、滑桿及試錐表面應平直光滑，依靠自重自由下落，不得有緊澀和曠動。d、試錐與滑桿總...
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A.SZ-145砂漿稠度儀，砂漿維卡儀技術要求：a、帶動刻度盤的齒條應清潔、無變形。b、刻度盤位置固定，刻度線應清晰、無變形。c、滑桿及試錐表面應平直光滑，依靠...
a、帶動刻度盤的齒條應清潔、無變形。b、刻度盤位置固定，刻度線應清晰、無變形。c、滑桿及試錐表面應平直光滑，依靠自重自由下落，不得有緊澀和曠動。d、試錐與滑桿總...
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